● 功能集成到一個(gè)主機(jī)-桌上型（1220-50）
● 電解電容?IC反裝檢出（選件）
● 提升測(cè)試效率的宏測(cè)試
● 可組合成各種測(cè)試系統(tǒng)
機(jī)型
1220-50 (桌上型)
1220-51 (臺(tái)式型)
1220-52 (靈巧型)
1220-55 (在線型)
1220-51 (臺(tái)式型)
1220-52 (靈巧型)
1220-55 (在線型)
「連接的力量」 ATE產(chǎn)品介紹基板測(cè)試設(shè)備的「連接的力量」是指通過(guò)電氣測(cè)試與未來(lái)緊密相連的奮進(jìn)之力。 通過(guò)測(cè)試設(shè)備與各位顧客一起為幸福生活持續(xù)提供力所能及的支援。 同時(shí)，作為電氣測(cè)量命脈之所在的?測(cè)試能力?，與基板間連接之力的加強(qiáng)和不停地追求探索，也是基板測(cè)試設(shè)備的目標(biāo)及應(yīng)走之道路。- 在線測(cè)試機(jī)可做什么在線測(cè)試機(jī)是利用電氣測(cè)試驗(yàn)證貼裝線路板是否為良品的測(cè)試裝置。
在線測(cè)試機(jī)，其測(cè)試結(jié)果是基于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并可追溯的，為客戶提供高信賴性的測(cè)試。另外，隨著近年基板模塊化、元件精細(xì)化的發(fā)展，在外觀檢查中越來(lái)越多地出現(xiàn)以下難以檢出的不良。客戶也把目光聚焦在可提供安心可靠的實(shí)動(dòng)測(cè)試和功能檢查等多樣測(cè)試的在線測(cè)試機(jī)上。
?元件底下發(fā)生的不良（焊錫散落等）
?貼片后的線路板不良（因熱導(dǎo)致的斷線等）
?元件自身的內(nèi)部不良（芯片裂縫等） 
豐富多樣的配套測(cè)試主機(jī)、節(jié)省空間、在線對(duì)應(yīng)在現(xiàn)場(chǎng)的各種配套組合
Flash Programing程序?qū)懭?/div>近年來(lái)，閃存單片機(jī)的量產(chǎn)使用以及工廠內(nèi)在線寫入的檢討·導(dǎo)入的需求越來(lái)越多。
把在線測(cè)試機(jī)與FlashPrograming程序?qū)懭虢Y(jié)合在一起，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)品質(zhì)提升·成本下降·速度提高。
[ ①貼片確認(rèn) → ②程序?qū)懭搿 、蹌?dòng)作測(cè)試 ]
→ 在線測(cè)試機(jī)綜合判定
可配套的程序?qū)懭朐O(shè)備
LED顏色識(shí)別·亮度判定1220裝配電源供給單元后，可在一個(gè)治具上實(shí)現(xiàn)貼片測(cè)試和LED測(cè)試。
一站完成，不僅僅縮短測(cè)試時(shí)間，同時(shí)匯總的數(shù)據(jù)也方便測(cè)試后進(jìn)行解析。
PAT(Part Average Testing)為了提高品質(zhì)管控，在基板測(cè)試中導(dǎo)入PAT技術(shù)，把RANK判定功能搭配在ICT測(cè)試機(jī)上。 在脫離測(cè)量主數(shù)據(jù)的偏離值（異常值）上增加RANK判定。
同時(shí)，可以根據(jù)每個(gè)元件的實(shí)際，自由設(shè)定是否需要RANK判定。
測(cè)點(diǎn)信息顯示（UA1782）「治具上的異常探針 究竟是測(cè)試線路板的哪里呢？」
測(cè)試時(shí)使用點(diǎn)瀏覽功能、或離線使用FAIL VIEWER UA1782的話，可以簡(jiǎn)單定位異常探針的所在以及完成元件搜索。
「編程、測(cè)試、確認(rèn)」 貼裝基板的電氣測(cè)試系統(tǒng)請(qǐng)務(wù)必體驗(yàn)新開發(fā)的量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)。
「編程」測(cè)試數(shù)據(jù)制作系統(tǒng) UA1780 測(cè)試治具
「測(cè)試」在線測(cè)試機(jī) 1220
「確認(rèn)」FAIL VIEWER UA1782
在貼裝基板的測(cè)試中，正確制作測(cè)試程序、正確測(cè)試對(duì)象基板、正確確認(rèn)不良異常是非常重要的。
■ 概略規(guī)格
| 1220-50 | 1220-51 | 1220-52 | 1220-55 | |
| 測(cè)試內(nèi)容 ·范圍 | 整體短路/開路、元件測(cè)量 | |||
| 宏測(cè)試: 10 Ω?10MΩ Ω (阻抗) | ||||
| 電阻: 400 μΩ?40M Ω | ||||
| 電容: 10 pF?400 mF | ||||
| 電感: 1 μH?100 H | ||||
| 二極管、三極管 (VF): 0 V?25 V | ||||
| 齊納二極管 (VZ): 0 V?25 V (25 V?120 V是選件功能) | ||||
| 數(shù)字三極管 (Q): 0 V?25 V | ||||
| 光 耦: 0 V?25 V | ||||
| 電容反裝檢出 (選件), IC反裝檢出 (選件) | ||||
| 測(cè)試點(diǎn)數(shù) | 2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)), 標(biāo)準(zhǔn): 128點(diǎn) | 2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)), 標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn) | 1,536點(diǎn) (追加2個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)), 標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn) | 2,176點(diǎn) (追加3個(gè)擴(kuò)展箱時(shí)), 標(biāo)準(zhǔn): 320點(diǎn) |
| 可以64點(diǎn)為單位增加測(cè)試點(diǎn)數(shù) | ||||
| 測(cè)試步數(shù) | 10,000步 | |||
| 測(cè)試時(shí)間 | 整體短路/開路: 約0.8 msec?/點(diǎn) 元件測(cè)量: 約0.9 msec?/步 | |||
| 可測(cè)基板尺寸 | 390 (W) × 300 (D)mm | |||
| 電源 | AC100 V ±10% (特殊規(guī)格下單時(shí)), 消耗功率: 700?1000VA | |||
| 尺寸?重量 | 200W × 325H × 298Dmm, 10 kg | 1030W × 1470H × 710Dmm, 240 kg | 655W × 1610H × 705Dmm, 220 kg | - |
